东大20年9月补考《测试技术基础》作业考核线上
东大20年9月补考《测试技术基础》作业考核线上东北大学继续教育学院
测试技术基础试卷（作业考核线上2）B卷（共6页）
总分
题号
一
二
三
四
五
六
七
八
九
十
得分
一填空题（每空1分，共计12分）
1.是在时域描述两个信号之间相关程度的无量纲的函数。
2.若x(t)的傅里叶变换是X（f），则x()t的傅里叶变换是10X(10f)。
3.用一阶系统作测量装置，为了获得较佳的工作性能，其时间常数τ应___。
4.能用明确的数学关系式或图象表达的信号称为信号。
5.采样时为了不产生频谱混叠，采样频率必须大于信号最高频率的倍。
6.当金属板置于变化着的磁场中时，或者在磁场中运动时，在金属板上产生感应电流，这种电流在金属体内是闭合的，所以称为。
7.某些物质，当沿着一定方向对其加力而使其变形时，在一定表面上将产生电荷，当外力去掉后，又重新回到不带电状态，这种现象称为。
8.调幅波可以看作是载波与调制波的________。
9.若采样频率过低，不满足采样定理则采样离散信号的频谱会发生________现象。
10.任何样本的时间平均等于总体平均的随机信号被称为信号。
11.正弦信号的自相关函数保留了信号的信息和频率信息，但是失去了相位的信息。
12.附加传感器质量将使被测振动系统的固有频率。
二．（每题2分，共计24分）
1.压电式加速度计，希望其固有频率（ ）
（1）在400Hz左右（2）在120Hz左右（3）尽量高些（4）尽量低些
2.概率密度函数提供了随机信号（ ）的信息。
（1）沿概率轴分布（2）沿幅值域分布（3）沿时域分布（4）沿强度分布
3将和两个信号叠加，其合成信号是（）。
（1）角频率为2的周期信号（2）角频率为的周期信号
（3）准周期信号（4）随机信号
4二阶系统作测量装置时为获得较宽的工作频率范围则系统的阻尼比应()。
（1）愈大愈好（2）愈小愈好（3）接近1/2（4）接近
5.外力作用下发生机械变形时，其电阻值随着它所受机械变形(伸长或缩短)的变化而发生变化的现象，称为金属的（）效应。
（1）霍尔（2）涡流（3）电阻应变（4）压电
6正弦信号输入信号的稳态输出是（）正弦信号。
（1）同频率（2）高阶频率（3）低阶频率（4）不同频率
7磁带记录仪快录慢放将使重放信号的频谱带宽（）。.
（1）变窄，幅值压低（2）扩展，幅值压低
（3）扩展，幅值增高（4）变窄，幅值增高
8倒频谱函数自变量可使用的单位是（）。
（1）毫伏（2）赫兹（3）毫秒（4）毫米/秒
9周期信号频谱特点是（）
（1）连续的，随着频率的增大而减小；
（2）离散的，只发生在基频的整数倍；
（3）连续的，只在有限区间有非零值；
（4）离散的，各频率成分的频率比不是有理数。
10（）组传感器都是把被测量变换为电动势输出的。
（1）硅光电池、霍尔、磁电式；
（2）热电偶、电涡流、电阻应变；
（3）热电偶、霍尔、半导体气敏传感器；
（4）压电、霍尔、电感式。
11电信号中最高频率fc为50Hz，采样频率fs至少应为()Hz。
（1）50（2）100（3）250（4）25。
12调幅波（AM）是（）。
（1）载波与调制信号（即被测信号）相加；
（2）载波频率随调制信号幅值而变；
（3）载波幅值随调制信号幅值而变；
（4）载波相位随调制信号幅值而变。
三问答题（共计6题，任选4题，每题6分，合计24分）
(全做时，按前4题给分；不做可以将题打)
1、以单臂工作为例，说明在进行电阻应变测量时，消除温度影响的原理和条件？
答：
2、实现不失真测试的条件是什么？
答：
3、说明周期信号频谱的特点。，
答：
4信号分析中，什么是泄漏？为什么产生泄漏？窗函数为什么能减少泄漏？
答：
5通常测试系统由哪几部分组成？简要说明各组成部分的主要功能。
答：
6．简述热电偶的测温原理。
答：
四计算题（每题10分，共2题，合计20分）
1、用一个一阶系统做100Hz正弦信号的测量，若要求幅值误差在5%以内，时间常数应取为多少？若用该时间常数在同一系统测试50Hz的正弦信号，幅值误差和相位差各为多少？（系统）
解：
2、介绍一种测定设备固有频率的原理和方法。（要求说明原理和如何确定固有频率）
解答：
五、综合应用题（合计20分）（8+12=20分）
1、（8分）一特性常数A=1MPa/N的等强度梁，材料的波松比μ=0.3，弹性模量E=2105MPa，若悬臂端加载P=40N，根据图中贴片和组桥方式，填写静态应变测量时的仪器读数，或填写电阻R的标号（注：括号内R在梁下面）。
2、（12分）以你专业典型设备的检测或故障诊断为例，请设计一个测量、数据分析、故障诊断系统，要求：
1)说明系统各环节的基本原理；
2)说明系统使用何种传感器和放大器；
3)测量数据做何种分析才可以检测或诊断出设备故障？
学习中心：院校学号：姓名
1
课程名称测试技术基础
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